Laboratórium hmotnostnej spektroskopie sekundárnych iónov

Vedúci:

doc. RNDr. Dušan Velič PhD.

Zameranie:

Analýza materiálov so zameraním na chemickú kompozíciu povrchov a rozhraní materiálov.

Aktivity:

Metóda hmotnostnej spektrometrie sekundárnych iónov – SIMS (Secondary Ion Mass Spectrometry) umožňuje výnimočnú kombináciu vysokej hmotnostnej citlivosti v ppb oblasti, vysoké hmotnostné rozlíšenie a vysoke priestorové rozlíšenie v ráde 100nm. Princípom metódy SIMS je atomárne bombardovanie povrchu primárnymi iónmi s vysokou energiou, čoho dôsledkom je emisia atómov, molekúl a klastrov z povrchu (sekundárne ióny), ktoré sú analyzované v metódou TOF (Time of Flight – doba letu). Použitím druhého nízkoenergetického primárneho iónového zväzku je možné povrch materiálu odprašovať, čím vzniká možnosť chemickej analýzy aj do hĺbky materiálu. Metóda SIMS v prípade tuhofázových materiálov nemá limitácie pre analyzované chemické prvky. Je možné detekovať všetky prvky periodickej tabuľky, ako aj komplexné molekuly vo forme klastrov. Výsledkom analýzy je hmotnostné spektrum, dvojdimenzionálne hmotnostná distribúcia (mapa) prvkov danej oblasti, alebo trojdimenzionálna distribúcia chemického zloženia. V spojení metódy SIMS a ostatných analytických metód v MLC umožňuje komplexnú analýzu materiálov pre riešenie výskumých úloh základného aj aplikovaného výskumu.

Vybrané aplikácie:

  • Charakterizácia kovových a polovodičových tenkých vrstiev v tuhej fáze, biologických tkanív a buniek, polymérov a supramolekulárnych tenkých vrstiev.

lhs01
lhs02
lhs03
lhs04
lhs05